迈克尔逊干涉条纹位移信息提取研究 | |
李忠明; 唐延甫; 李俊霖; 杨永强; 李洪雨 | |
刊名 | 电子测量技术 |
2021-03-08 | |
卷号 | 44期号:05页码:51-54 |
英文摘要 | 基于迈克尔逊干涉原理,利用干涉成像原理和图像处理技术,提出了利用干涉条纹半径变化情况来获取干涉条纹位移信息的方法。该方法以面阵CCD相机采集的图像为处理对象,采用去噪、顶帽变换、二值化、形态学处理等预处理操作,再利用连通域特征识别得到图像中心亮干涉条纹的半径。通过半径的变化趋势与幅度,实现位移信息提取。实验表明,所提方法突破了干涉条纹计数时位移检测最高分辨率为λ/2的限制,利用了每帧干涉图像所提供的变化信息,实现位移检测分辨率λ/4。 |
内容类型 | 期刊论文 |
源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/65893] |
专题 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
作者单位 | 1.中国科学院大学 2.中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 李忠明,唐延甫,李俊霖,等. 迈克尔逊干涉条纹位移信息提取研究[J]. 电子测量技术,2021,44(05):51-54. |
APA | 李忠明,唐延甫,李俊霖,杨永强,&李洪雨.(2021).迈克尔逊干涉条纹位移信息提取研究.电子测量技术,44(05),51-54. |
MLA | 李忠明,et al."迈克尔逊干涉条纹位移信息提取研究".电子测量技术 44.05(2021):51-54. |
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