一种红外成像盲元的统计分析及评价方法
史泽林; 向伟; 惠斌; 邬抒航; 石轶; 花海洋
2020-06-30
著作权人中国科学院沈阳自动化研究所
国家中国
文献子类发明
产权排序1
英文摘要本发明涉及一种红外成像盲元的统计分析及评价方法,检测红外原始图像中的盲元像素,转换成二值化图像;将二值化图像定义四个区域,进行盲元连通区域标识,并对整个图像进行扫描,得到所有盲元连通区域;计算每个连通区域的像素数量,根据每个连通区域的像素数量进行分类,分别统计四个区域内的连通区域的像素数量分布;计算盲元概率密度、盲元密度和盲元离散度,对二值化图像进行评价。本发明采用盲元数量、盲元概率密度、盲元密度、盲元离散度四个指标分析盲元的分布情况,可以准确、客观地给出盲元的影响程度。
申请日期2018-12-20
语种中文
状态公开
内容类型专利
源URL[http://ir.sia.cn/handle/173321/27270]  
专题沈阳自动化研究所_光电信息技术研究室
作者单位中国科学院沈阳自动化研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
史泽林,向伟,惠斌,等. 一种红外成像盲元的统计分析及评价方法. 2020-06-30.
个性服务
查看访问统计
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。


©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by CSpace