一种红外成像盲元的统计分析及评价方法 | |
史泽林; 向伟; 惠斌; 邬抒航; 石轶; 花海洋 | |
2020-06-30 | |
著作权人 | 中国科学院沈阳自动化研究所 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明 |
产权排序 | 1 |
英文摘要 | 本发明涉及一种红外成像盲元的统计分析及评价方法,检测红外原始图像中的盲元像素,转换成二值化图像;将二值化图像定义四个区域,进行盲元连通区域标识,并对整个图像进行扫描,得到所有盲元连通区域;计算每个连通区域的像素数量,根据每个连通区域的像素数量进行分类,分别统计四个区域内的连通区域的像素数量分布;计算盲元概率密度、盲元密度和盲元离散度,对二值化图像进行评价。本发明采用盲元数量、盲元概率密度、盲元密度、盲元离散度四个指标分析盲元的分布情况,可以准确、客观地给出盲元的影响程度。 |
申请日期 | 2018-12-20 |
语种 | 中文 |
状态 | 公开 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://ir.sia.cn/handle/173321/27270] |
专题 | 沈阳自动化研究所_光电信息技术研究室 |
作者单位 | 中国科学院沈阳自动化研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 史泽林,向伟,惠斌,等. 一种红外成像盲元的统计分析及评价方法. 2020-06-30. |
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