| Fast Scanning Diamond Detector for Electron Beam Profile Monitoring | |
| V.V. Konovalov; S. Bellavia; J.C. Brutus; R.J. Michnoff; T.A. Miller; P. Thieberger | |
| 2021 | |
| 会议日期 | 2021 |
| 会议地点 | Korea |
| 会议录 | Proceedings of the 10th International Beam Instrumentation Conference
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| 语种 | 英语 |
| 内容类型 | 会议论文 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/291420]  |
| 专题 | 高能物理研究所_学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_IBIC |
| 作者单位 | 1.Applied Diamond, Inc., Wilmington, Delaware, USA 2.BNL, Upton, New York, USA |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | V.V. Konovalov,S. Bellavia,J.C. Brutus,et al. Fast Scanning Diamond Detector for Electron Beam Profile Monitoring[C]. 见:. Korea. 2021. |
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