高分辨瞬态光场复振幅测量装置及方法
段亚轩; 陈晓义; 达争尚
2020-12-23
著作权人中国科学院西安光学精密机械研究所
专利号CN202011544090.2
国家中国
文献子类发明专利
产权排序1
英文摘要为了解决目前采用相位恢复技术直接测量光场复振幅时,无法实现光场复振幅的瞬态测量,以及测量精度不高的问题,本发明提出一种高分辨瞬态光场复振幅测量装置及方法。本发明利用混合调制光栅将待测光场分束为四束等光强的光束,并在它们传播过程中分别进行不同的相位调制,然后利用探测器获取调制后的四束光场强度信息,最后通过相位恢复方法计算得到待测光场复振幅。本发明利用瞬时获取的四个不同的衍射光强信息,实现了光场复振幅的瞬态高分辨测量;本发明不包含复杂的扫描过程,既提高了测量效率,又不会引入由于扫描过程造成的光路倾斜误差或者距离误差。
公开日期2021-05-07
申请日期2020-12-23
语种中文
状态申请中
内容类型专利
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/95525]  
专题西安光学精密机械研究所_先进光学仪器研究室
推荐引用方式
GB/T 7714
段亚轩,陈晓义,达争尚. 高分辨瞬态光场复振幅测量装置及方法. CN202011544090.2. 2020-12-23.
个性服务
查看访问统计
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。


©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by CSpace