一种全场X射线成像系统及成像方法 | |
邓彪; 杜国浩; 佟亚军; 陈荣昌; 丰丙刚; 肖体乔 | |
2016-07-27 | |
著作权人 | 中国科学院上海应用物理研究所 |
专利号 | CN105806860A |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明专利 |
英文摘要 | 本发明涉及一种全场X射线成像系统及成像方法,其中所述系统包括:X射线光源;铅准直器,其对所述X射线光源输出的X射线进行限束以输出X射线锥束;设置在所述铅准直器输出侧的用于放置样品的样品台;X射线成像探测器,其探测从所述样品透射出的X射线,并获得一组X射线显微CT投影数据;X射线成像光谱仪,其探测所述样品激发出的特征X射线荧光,并获得一组X射线荧光CT投影数据;以及与所述X射线成像探测器和所述X射线成像光谱仪连接的数据处理装置。采用本发明可以同时实现X射线荧光CT与显微CT全场成像,获得样品中元素三维分布及内部结构信息。 |
公开日期 | 2016-07-27 |
申请日期 | 2016-03-08 |
语种 | 中文 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/33697] |
专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2011-2017年 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 邓彪,杜国浩,佟亚军,等. 一种全场X射线成像系统及成像方法. CN105806860A. 2016-07-27. |
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