高通量高分辨率高对比度的偏振干涉光谱成像装置及方法 | |
陈莎莎; 魏儒义; 王鹏冲; 谢正茂; 刘宏; 刘斌; 狄腊梅; 严强强 | |
2021-04-20 | |
著作权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
专利号 | CN202010322232.4 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明专利 |
产权排序 | 1 |
英文摘要 | 本发明涉及一种高通量高分辨率高对比度的偏振干涉光谱成像装置及方法。克服传统迈克尔逊干涉的成像光谱仪探测精度较低以及传统基于Sagnac干涉仪的成像光谱仪能量利用率和分辨率较低的问题,包括依次设置在光路中的准直镜、偏振片、干涉仪、色散系统、成像镜及探测器;干涉仪包括位于偏振分束器的出射光路中的半波片及光程差标准具;目标光源入射到干涉仪利用半波片调节S光或P光的振动方向,使得S光和P光具有相同的振动方向;利用光程差标准具调节S光和/或P光的光程,使得S光和P光之间产生固定的光程差;非偏分束器将具有相同振动方向、固定光程差的S光和P光均反射和透射,形成干涉条纹;干涉条纹经色散系统色散后成像在探测器上。 |
公开日期 | 2021-04-20 |
申请日期 | 2020-04-22 |
语种 | 中文 |
状态 | 授权 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/95211] |
专题 | 西安光学精密机械研究所_光学影像学习与分析中心 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈莎莎,魏儒义,王鹏冲,等. 高通量高分辨率高对比度的偏振干涉光谱成像装置及方法. CN202010322232.4. 2021-04-20. |
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