基于任意场景的CCD相机电子学增益测试方法研究

doi:10.16818/j.issn1001-5868.2020.05.023

CORC > 光电技术研究所 > 中国科学院光电技术研究所 > 质量处（质检中心）

	基于任意场景的CCD相机电子学增益测试方法研究
	胡明鹏[1]; 成俊舟[1,2]; 任王涛[1,2]; 熊锐[1,2]
刊名	半导体光电
	2020-09-27
卷号	41 期号:5 页码:724-728
关键词	电子学增益 CCD相机噪声均匀光源测试
ISSN号	1001-5868
DOI	10.16818/j.issn1001-5868.2020.05.023
文献子类	期刊论文
英文摘要	在分析CCD相机噪声特性的基础上,设计了一种用于CCD相机电子学增益测试的新方法。该方法采用任意场景作为测试背景,通过改进算法推导了图像信号SDN和图像噪声σDN之间的线性关系,从而解算出相机的电子学增益。与传统方法采用积分球或EMVA1288标准要求的均匀光源相比,该方法具有操作简便、经济性高的特点。与原有算法进行对比实验,结果表明,该方法能够较精确地对CCD相机电子学增益进行测试,测试重复性高,且有效可靠。
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语种	中文
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.ioe.ac.cn/handle/181551/9916]
专题	光电技术研究所_质量处（质检中心）
作者单位	1.中国科学院大学,北京100049 2.中国科学院光电技术研究所,成都610209
推荐引用方式 GB/T 7714	胡明鹏[1],成俊舟[1,2],任王涛[1,2],等. 基于任意场景的CCD相机电子学增益测试方法研究[J]. 半导体光电,2020,41(5):724-728.
APA	胡明鹏[1],成俊舟[1,2],任王涛[1,2],&熊锐[1,2].(2020).基于任意场景的CCD相机电子学增益测试方法研究.半导体光电,41(5),724-728.
MLA	胡明鹏[1],et al."基于任意场景的CCD相机电子学增益测试方法研究".半导体光电 41.5(2020):724-728.