| 用于点源透过率测试的双球型腔体及点源透过率测试系统 | |
| 李朝辉; 赵建科; 徐亮; 刘峰; 刘勇; 李晓辉; 张玺斌; 午建军 | |
| 2020-07-31 | |
| 著作权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 专利号 | CN201921878720.2 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 实用新型 |
| 产权排序 | 1 |
| 英文摘要 | 本实用新型属于光学系统杂散光测试领域，涉及一种用于点源透过率测试的双球型腔体及点源透过率测试系统，解决双圆柱型腔体结构在被测相机测试角度为非水平方向的测量时，一次反射的杂散光线仍然存在很大几率直接进入到相机入瞳，影响PST测试精度的问题。该双球型腔体，由两个半球壳相对接而成，其横竖截面与双圆柱型腔体相同，截面在方位和俯仰上同时兼顾双圆柱型腔体的消光优点，使得相机测试角度为非水平方向时，腔体内壁反射光线经过多次反射后，能够进入到相机内部的杂光几乎可以忽略向完全不受限，保证杂光测试的顺利进行。 |
| 申请日期 | 2019-11-04 |
| 语种 | 中文 |
| 状态 | 授权 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/94149]  |
| 专题 | 精密计量技术研究中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李朝辉,赵建科,徐亮,等. 用于点源透过率测试的双球型腔体及点源透过率测试系统. CN201921878720.2. 2020-07-31. |
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