| 一种基于光散射的光学薄膜LIDT测试装置与测试方法 | |
| 王青; 齐思璐; 孟令强; 杨援 | |
| 2017-10-20 | |
| 著作权人 | 南京理工大学 |
| 专利号 | CN107271403A |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 一种基于光散射的光学薄膜LIDT测试装置与测试方法 |
| 英文摘要 | 本发明公开了一种基于光散射的光学薄膜LIDT测试装置，包括共光轴依次设置脉冲激光器、半波片、格兰‑泰勒棱镜、会聚透镜和待测样品，其所在的光轴为脉冲击打光轴；还包括构成共光轴测试光路的半导体激光器、扩束镜和孔径光阑，其所在的光轴为测试光轴，测试光轴与脉冲击打光轴存在夹角α，半导体激光器发出测试光，经扩束镜和孔径光阑后，射到待测样品前表面，经待测样品前表面散射，被CCD探测器接收；脉冲激光器发出的脉冲激光经半波片至格兰‑泰勒棱镜，经格兰‑泰勒棱镜反射和透射，透射光经会聚透镜会聚至待测样品。本发明更加稳定和高效，且适合在光学工厂中使用和搭建，成本低廉，操作简便。 |
| 公开日期 | 2017-10-20 |
| 申请日期 | 2016-04-07 |
| 状态 | 申请中 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/91559]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 南京理工大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王青,齐思璐,孟令强,等. 一种基于光散射的光学薄膜LIDT测试装置与测试方法. CN107271403A. 2017-10-20. |
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