二氧化硅-十八烷基三氯硅烷界面的和频光谱相位测量及其测量精度分析 | |
刘晓杰1,3; 徐帅1,3; 李玉琼1,3; 靳刚1,3; 冯冉冉1,2,3 | |
刊名 | 光谱学与光谱分析 |
2021-03-10 | |
卷号 | 41期号:03页码:789-795 |
关键词 | 二阶非线性光学技术 和频振动光谱 界面分子检测 相位测量 |
ISSN号 | 1000-0593 |
其他题名 | Sum-Frequency Spectrum Phase Measurement of the Silica-Octadecyltrichlorosilane Interface and Measurement Accuracy Analysis |
英文摘要 | 相位测量和频振动光谱(SFG)可以获得物质表面分子取向等信息,但在实验重复性、实验设计和界面分析等方面仍有一些关键问题没有解决。相位误差会引起光谱变化并误导界面结构分析,因此分析并准确控制误差是相位测量SFG的关键技术。使用z-切石英作为相位标准,测量了修饰在熔融石英基底上的十八烷基三氯硅烷(OTS)在C—H振动波段的和频振动光谱,对OTS的相位光谱进行了解析,结果表明OTS虚部光谱中, 2 878和2 936 cm~(-1)处的两个正峰分别是末端CH_3的对称振动(CH_3ss)和费米共振(CH_3FR), 2 960 cm~(-1)处的负峰为CH_3的反对称伸缩振动(CH_3as),这三个峰的光谱特征和指认与文献一致。2 910 cm~(-1)附近的负峰为CH_2反对称伸缩(CH_2as),与文献比较,约有20 cm~(-1)的偏移,且在2 850 cm~(-1)附近还观察到一个负峰,归属为CH_2对称伸缩(CH_2ss),分析认为与文献的差异可能是因为样品制备时间影响了OTS的分子排列结构。通过建立OTS虚部谱与CH_3取向角的关系,发现CH_3的三种振动模式的c轴与表面法线的夹角均小于90°,其H更多为向上取向且排列有序,表明相位测量相较于强度测量可以获得更丰富的表面信息。同时,讨论了待测样品和参考样品位置的非一致性对相位测量精度的影响。通过测量OTS在三个不同位置(12.1, 12.3和12.73 mm)的虚部谱,并与模拟相位误差的引入对虚部谱的影响对比,发现待测样品与参考样品测量位置间2.5μm的位移对应于1°的相位误差, 20°相位的偏移会导致零点位置移动约6 cm~(-1),从而引起振动峰位置和符号等的改变,导致对光谱的错误解析。为了获得界面分子稳定可靠的相位信息,需要严格控制两次样品测量位置一致。实验研究结果为提高和频振动光谱相位测量的精度与准确性提供了指导,为界面分子表面态的检测与分析、及微小信号的探测提供了有效手段。 |
分类号 | Q4 |
语种 | 中文 |
WOS记录号 | WOS:000636048700018 |
资助机构 | 国家自然科学基金面上项目(2177327) ; 国家自然科学基金青年科学基金项目(21303005) ; 中国科学院科研仪器设备研制项目(Y830031021)资助 |
其他责任者 | Feng Ran-ran |
内容类型 | 期刊论文 |
源URL | [http://dspace.imech.ac.cn/handle/311007/86228] |
专题 | 力学研究所_国家微重力实验室 |
作者单位 | 1.中国科学院力学研究所国家微重力实验室 2.北京大学化学与分子工程学院整合谱学中心 3.中国科学院大学工程科学学院 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘晓杰,徐帅,李玉琼,等. 二氧化硅-十八烷基三氯硅烷界面的和频光谱相位测量及其测量精度分析[J]. 光谱学与光谱分析,2021,41(03):789-795. |
APA | 刘晓杰,徐帅,李玉琼,靳刚,&冯冉冉.(2021).二氧化硅-十八烷基三氯硅烷界面的和频光谱相位测量及其测量精度分析.光谱学与光谱分析,41(03),789-795. |
MLA | 刘晓杰,et al."二氧化硅-十八烷基三氯硅烷界面的和频光谱相位测量及其测量精度分析".光谱学与光谱分析 41.03(2021):789-795. |
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