| 一种半导体激光器芯片的测试系统 | |
| 胡海; 刘文斌; 王泰山; 李成鹏; 方继林 | |
| 2017-04-26 | |
| 著作权人 | 深圳清华大学研究院 |
| 专利号 | CN106597264A |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 一种半导体激光器芯片的测试系统 |
| 英文摘要 | 本发明公开了一种半导体激光器芯片的测试系统，包括测试柜、测试电源、空气粒子计数器和计算机处理子系统；测试柜，其包括装载平台，多个待测试的芯片组件放置在所述装载平台上；测试电源，用以向所述多个待测试的芯片组件提供测试电流；空气粒子计数器，设置在所述测试柜中，用于监控所述测试柜内的空气洁净度；计算机处理子系统，分别与所述测试电源和所述空气粒子计数器连接，用以根据所述空气洁净度，向所述测试电源发出相应的控制指令。通过上述方式，本发明能够提高测试的安全性，避免因半导体激光器芯片组件意外失效带来的损失。 |
| 公开日期 | 2017-04-26 |
| 申请日期 | 2017-01-20 |
| 状态 | 申请中 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/79768]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 深圳清华大学研究院 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 胡海,刘文斌,王泰山,等. 一种半导体激光器芯片的测试系统. CN106597264A. 2017-04-26. |
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