用于绝对距离测量的双频激光干涉仪及其测量方法
王渤帆; 李中梁; 王向朝; 步扬
2011-08-31
著作权人北京国望光学科技有限公司
专利号CN102168944A
国家中国
文献子类发明申请
其他题名用于绝对距离测量的双频激光干涉仪及其测量方法
英文摘要一种用于绝对距离测量的双频激光干涉仪及其测量方法,该双频激光干涉仪的结构包括光源、光纤耦合器、隔离器、准直器、光电探测器、压电陶瓷、数据采集卡和计算机。所述的光源是两个波长不相等的半导体激光器,且带有光源控制器;光电探测器将接收到的干涉信号转换成电信号输入到数据采集卡内,并通过计算机进行数据处理得到待测距离。本发明干涉仪将线性调频技术与正弦相位调制干涉测量技术相结合,扩大了测量范围,利用相关参数通过求解线性方程组计算干涉信号的相位,从原理上消除了光源的光强调制引起的系统误差,提高了测量精度。
公开日期2011-08-31
申请日期2010-12-24
状态授权
内容类型专利
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/66692]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位北京国望光学科技有限公司
推荐引用方式
GB/T 7714
王渤帆,李中梁,王向朝,等. 用于绝对距离测量的双频激光干涉仪及其测量方法. CN102168944A. 2011-08-31.
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