| 一种基于labview的半导体激光器芯片的测试系统 | |
| 李志平; 李林森; 张松林; 周君君 | |
| 2015-11-11 | |
| 著作权人 | 成都超迈光电科技有限公司 |
| 专利号 | CN105044582A |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 一种基于labview的半导体激光器芯片的测试系统 |
| 英文摘要 | 本发明公开了一种测试系统，尤其是一种基于labview的半导体激光器芯片的测试系统，包括：计算机、光谱仪、四轴电机控制器、四轴电机、模拟电压输出模块、电压转电流模块、多通道模拟信号数据采集模块、温度控制反馈电路、X/Y/Z三维运动平台、T轴一维平移台、抽真空芯片bar条吸附台、激光功率探测器、三维光纤耦合调整台、CCD摄像监控系统、三维芯片探针固定调整架、及USB总线，在本测试系统中单个测试时间尽可能的短，极大地提高生产效率，以适应现代批量生产要求；且可适应不同类型的端面发射半导体激光器和不同性能测试的要求，减少重复开发工作；测试精度高、重复性好，尽量减少人工因素的影响；同时对关心的中间参数也可以进行测试，提高覆盖率。 |
| 公开日期 | 2015-11-11 |
| 申请日期 | 2015-05-05 |
| 状态 | 失效 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/65017]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 成都超迈光电科技有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李志平,李林森,张松林,等. 一种基于labview的半导体激光器芯片的测试系统. CN105044582A. 2015-11-11. |
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