一种光场高阶相干度及噪声特性的探测装置

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	一种光场高阶相干度及噪声特性的探测装置
	郭龑强; 郭晓敏; 姬玉林; 李璞; 刘香莲
	2018-03-30
著作权人	太原理工大学
专利号	CN107860470A
国家	中国
文献子类	发明申请
其他题名	一种光场高阶相干度及噪声特性的探测装置
英文摘要	本发明属于光场微观统计特性的研究领域，提出了一种单光子水平上的光场高阶相干度及噪声特性研究装置，包括半导体激光器、偏振控制器、环形器、光纤耦合器、可调光纤衰减器、隔离器，半波片、偏振分束棱镜、第一准直透镜、光纤、第二准直透镜、光衰减器、聚焦透镜、毛玻璃片、光阑、滤波片、衰减片、第一分束镜、第二分束镜、第三分束镜、第一单光子探测器、第二单光子探测器、第三单光子探测器、第四单光子探测器和数据采集系统；数据采集系统与第一单光子探测器、第二单光子探测器、第三单光子探测器、第四单光子探测器的信号输出端连接；本发明可以研究光场高阶相干度及噪声特性，可以应用于光场特性研究领域。
公开日期	2018-03-30
申请日期	2017-10-13
状态	申请中
内容类型	专利
源URL	[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/56702]
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	太原理工大学
推荐引用方式 GB/T 7714	郭龑强,郭晓敏,姬玉林,等. 一种光场高阶相干度及噪声特性的探测装置. CN107860470A. 2018-03-30.