基于图像监测微颗粒形状与散射的装置
邵士勇; 姚永帮; 饶瑞中
2010-12-29
著作权人中国科学院安徽光学精密机械研究所
专利号CN101082562B
国家中国
文献子类授权发明
其他题名基于图像监测微颗粒形状与散射的装置
英文摘要本发明公开了一种基于图像监测微颗粒形状与散射的装置。在内表面经过粗糙化和发黑处理的散射腔体上,顶部与底部分别设置微颗粒流进样管与出气管,在散射腔体的水平方向的径向面上每间隔90°安装半导体激光器和三个可调节显微镜,散射腔有规律的分布有40个指向腔心的方位角与极角光纤插孔,光纤插孔内安装有采样光纤,从40个方位角全面检测微颗粒散射信号,利用显微镜放大CCD摄像技术筛选出通过光束的单颗微粒,对颗粒形状进行快速统计分类,总结已有散射理论的适用条件,并使反演理论得到修正。
公开日期2010-12-29
申请日期2007-06-28
状态失效
内容类型专利
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/48454]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位中国科学院安徽光学精密机械研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
邵士勇,姚永帮,饶瑞中. 基于图像监测微颗粒形状与散射的装置. CN101082562B. 2010-12-29.
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