| Using Failure Analysis Techniques to Identify Key Information of PHM | |
| Jiang, Maogong; Fu, Guicui; Wang, Danyan; Zhang, Dong | |
| 2015 | |
| 会议名称 | 2015 PROGNOSTICS AND SYSTEM HEALTH MANAGEMENT CONFERENCE (PHM) |
| 会议日期 | 2015-01-01 |
| 关键词 | Failure Analysis Prognostic and System Health Management Intelligent Power Module Insulated Gate Bipolar Transistors |
| 收录类别 | EI ; CPCI-S |
| URL标识 | 查看原文 |
| WOS记录号 | WOS:000380490300050 |
| 内容类型 | 会议论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6537649 |
| 专题 | 北京航空航天大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Jiang, Maogong,Fu, Guicui,Wang, Danyan,et al. Using Failure Analysis Techniques to Identify Key Information of PHM[C]. 见:2015 PROGNOSTICS AND SYSTEM HEALTH MANAGEMENT CONFERENCE (PHM). 2015-01-01. |
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