不同电子能量辐照下偏置对运算放大器辐射效应的影响

	不同电子能量辐照下偏置对运算放大器辐射效应的影响
	陆妩
	2011
会议名称	2011第十四届全国可靠性物理学术讨论会
会议日期	2011
会议地点	苏州
中文摘要	本文介绍了LM837双极运算放大器在1．8Mev、1Mev，不同能量不同束流、相同能量不同束流的电子辐照下的辐射效应及常温退火特性。试验结果表明：1．8MeV电子能量辐照引起的LM837辐射损伤比1Mev明显;辐照过程中正偏条件下的偏置电流变化比零偏时微大;不同情况下辐照后的室温退火都表现出“后损伤”效应。本文对能量的不同、偏置的不同所导致的不同损伤机理进行了分析。
收录类别	wanfang
会议主办者	中国电子学会广东省电子学会广东省仪器仪表学会
语种	中文
内容类型	会议论文
源URL	[http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/2310]
专题	新疆理化技术研究所_材料物理与化学研究室
推荐引用方式 GB/T 7714	陆妩. 不同电子能量辐照下偏置对运算放大器辐射效应的影响[C]. 见:2011第十四届全国可靠性物理学术讨论会. 苏州. 2011.