TiAl的平面缺陷能与R现象的电子理论

	TiAl的平面缺陷能与R现象的电子理论
	李文 ; 于相慧 ; 关振中 ; 张瑞林 ; 余瑞璜
刊名	中国有色金属学报
	1998-12-30
期号	S1 页码:249-253
关键词	TiAl 价电子结构平面缺陷能 R现象
公开日期	2013-03-11
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/30447]
专题	长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式 GB/T 7714	李文,于相慧,关振中,等. TiAl的平面缺陷能与R现象的电子理论[J]. 中国有色金属学报,1998(S1):249-253.
APA	李文,于相慧,关振中,张瑞林,&余瑞璜.(1998).TiAl的平面缺陷能与R现象的电子理论.中国有色金属学报(S1),249-253.
MLA	李文,et al."TiAl的平面缺陷能与R现象的电子理论".中国有色金属学报 .S1(1998):249-253.