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	Research on accelerated degradation test for GaAs solar cells in LEO environment
	Zhang, Yuanxin; Ma, Xiaobing; Wang, Han; Jiang, Haifu
	2017
会议名称	RISK, RELIABILITY AND SAFETY: INNOVATING THEORY AND PRACTICE
会议日期	2017-01-01
页码	52-56
收录类别	CPCI-S ; CPCI-SSH
URL标识	查看原文
WOS记录号	WOS:000414164700008
内容类型	会议论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/5944278
专题	北京航空航天大学
推荐引用方式 GB/T 7714	Zhang, Yuanxin,Ma, Xiaobing,Wang, Han,et al. Research on accelerated degradation test for GaAs solar cells in LEO environment[C]. 见:RISK, RELIABILITY AND SAFETY: INNOVATING THEORY AND PRACTICE. 2017-01-01.

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