| 半导体激光器测试系统环境温度控制装置 | |
| 徐文贯; 马军; 张林杰; 黄俊华; 吴庆贤; 崔贵华; 罗军; 郑建福; 陈新苹 | |
| 2014-11-19 | |
| 著作权人 | 广州赛宝仪器设备有限公司 |
| 专利号 | CN203950220U |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 实用新型 |
| 其他题名 | 半导体激光器测试系统环境温度控制装置 |
| 英文摘要 | 本实用新型半导体激光器测试系统环境温度控制装置，包括主箱体、空气循环与处理装置、冷却装置以及控制器，整个半导体激光器测试系统环境温度控制装置，结构简单、空气循环与处理装置对主箱体内温度进行调节，强迫/加快主箱体内空气流动提高动态温度响应效率，冷却装置能够直接带走半导体激光器测试系统在测试过程中产生的热量，避免过热影响半导体激光器测试系统的正常工作。本实用新型半导体激光器测试系统环境温度控制装置可提供一个稳定的试验环境，适合半导体激光器测试系统的环境温度控制，确保半导体激光器测试系统正常工作。 |
| 公开日期 | 2014-11-19 |
| 申请日期 | 2014-06-17 |
| 状态 | 授权 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/40894]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 广州赛宝仪器设备有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 徐文贯,马军,张林杰,等. 半导体激光器测试系统环境温度控制装置. CN203950220U. 2014-11-19. |
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