| 基于特征吸收谱线测量F‑P腔自由光谱范围的方法及装置 | |
| 陶波; 胡志云; 叶景峰; 张振荣; 王晟 | |
| 2018-04-06 | |
| 著作权人 | 西北核技术研究所 |
| 专利号 | CN106568507B |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 授权发明 |
| 其他题名 | 基于特征吸收谱线测量F‑P腔自由光谱范围的方法及装置 |
| 英文摘要 | 本发明提供一种基于特征吸收谱线测量F‑P腔自由光谱范围的方法，采用可调谐窄线宽二极管激光器波长扫描的方法同时测量F‑P腔透过率曲线和两条特征吸收谱线的吸收光谱，然后通过计数两条特征吸收谱线的谱线间隔内F‑P腔透过率曲线的干涉峰数量来实现F‑P腔自由光谱范围的测量。由于特征谱线的中心频率非常准确，达10‑6cm‑1，且不受测量环境及测量系统的影响，所以本发明创造有效的提高了F‑P腔自由光谱范围的测量精度，FSR的测量精度可优于10‑6cm‑1。此外，本发明创造的所有计算步骤均可通过计算机编程实现自动处理，易于操作。 |
| 公开日期 | 2018-04-06 |
| 申请日期 | 2016-11-07 |
| 状态 | 授权 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/40643]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 西北核技术研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陶波,胡志云,叶景峰,等. 基于特征吸收谱线测量F‑P腔自由光谱范围的方法及装置. CN106568507B. 2018-04-06. |
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