| 半导体激光二极管芯片高速直调动态光谱测试装置 | |
| 邱德明; 张振峰; 杨国良 | |
| 2019-03-05 | |
| 著作权人 | 武汉盛为芯科技有限公司 |
| 专利号 | CN208580179U |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 实用新型 |
| 其他题名 | 半导体激光二极管芯片高速直调动态光谱测试装置 |
| 英文摘要 | 本实用新型公开了半导体激光二极管芯片高速直调动态光谱测试装置，包括半导体激光二极管芯片、探针、测试台、光纤、透镜、光谱仪、电流源、偏置器和同轴电缆；半导体激光二极管芯片放于测试台上，电流源中的直流源和调制驱动源采用偏置器切换接入同轴电缆，并通过探针及芯片背部电极给半导体激光二极管芯片提供直流电流或调制驱动电流，分别给半导体激光二极管芯片提供直流电流和脉冲调制电流，半导体激光二极管芯片发射光通过透镜耦合到光纤进入光谱仪，光谱仪测试半导体激光二极管芯片的光谱特性。本实用新型在芯片直流测试的基础上，增加动态调制测试，以筛除未加调制和调制下激射的光谱会发生变化的芯片，保证后续续封装阶段的器件的合格率。 |
| 公开日期 | 2019-03-05 |
| 申请日期 | 2018-08-10 |
| 状态 | 授权 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/38260]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 武汉盛为芯科技有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 邱德明,张振峰,杨国良. 半导体激光二极管芯片高速直调动态光谱测试装置. CN208580179U. 2019-03-05. |
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