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4H-SiC TPJBS二极管器件结构和器件仿真
张海鹏; 齐瑞生; 王德君; 王勇
刊名电力电子技术
2011
卷号45页码:35-37
关键词碳化硅 功率器件 电学特性 器件仿真
ISSN号1000-100X
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内容类型期刊论文
URI标识http://www.corc.org.cn/handle/1471x/4835674
专题大连理工大学
作者单位1.杭州电子科技大学,电子信息学院射频电路与系统教育部重点实验室,浙江杭州310018
2.大连理工大学,电子信息与电气工程学部电子科学与技术学院,辽宁大连116024
3.杭州汉安半导体有限公司,浙江杭州310018
4.杭州电子科技大学,电子信息学院射频电路与系统教育部重点实验室,浙江杭州310018
5.大连理工大学,电子信息与电气工程学部电子科学与技术学院,辽宁大连116024
6.杭州汉安半导体有限公司,浙江杭州,310018
推荐引用方式
GB/T 7714
张海鹏,齐瑞生,王德君,等. 4H-SiC TPJBS二极管器件结构和器件仿真[J]. 电力电子技术,2011,45:35-37.
APA 张海鹏,齐瑞生,王德君,&王勇.(2011).4H-SiC TPJBS二极管器件结构和器件仿真.电力电子技术,45,35-37.
MLA 张海鹏,et al."4H-SiC TPJBS二极管器件结构和器件仿真".电力电子技术 45(2011):35-37.
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