| 一种杂光测试装置 (实用新型) | |
| 谷立山 ; 王立朋 ; 张晓辉 | |
| 2008-12-31 | |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 权利人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 中文摘要 | 本实用新型涉及一种杂光测试装置，该杂光测试装置包括积分球，光源，目标板，准直物镜，可变光栏，探测器，调整架，四维移动机构；积分球上的可变光栏一侧安装准直物镜，并且积分球内的目标板、准直物镜、可变光栏、被测光学系统和探测器在同一光轴上顺序放置。积分球漫反射的发散光经过准直物镜转换成平行光束后，再经可变光栏调节光束孔径后照…… |
| 公开日期 | 2008-12-31 |
| 专利申请号 | 200820071665.1 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/12433]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 谷立山,王立朋,张晓辉. 一种杂光测试装置 (实用新型). 2008-12-31. |
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