| 无失效数据的MEMS传感器可靠性分析 | |
| 佐磊; 孙洪凯; 何怡刚; 尹柏强; 胡小敏 | |
| 刊名 | 电子测量与仪器学报
 |
| 2019 | |
| 期号 | 06 |
| 关键词 | Bayes 可靠性 无失效数据 失效率 MEMS传感器 |
| ISSN号 | 1000-7105 |
| DOI | 10.13382/j.jemi.B1901966 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 收录类别 | CNKI |
| 语种 | 中文 |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/4247235 |
| 专题 | 武汉大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 佐磊,孙洪凯,何怡刚,等. 无失效数据的MEMS传感器可靠性分析[J]. 电子测量与仪器学报,2019(06). |
| APA | 佐磊,孙洪凯,何怡刚,尹柏强,&胡小敏.(2019).无失效数据的MEMS传感器可靠性分析.电子测量与仪器学报(06). |
| MLA | 佐磊,et al."无失效数据的MEMS传感器可靠性分析".电子测量与仪器学报 .06(2019). |
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