QQ客服 官方微博 反馈留言

	X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) of carbon nitride (CN) films
	Mo, Shaobo; Liu, Ying; Yang, Yezhi; Cheng, Yuhang
刊名	光谱学与光谱分析
	1999
卷号	19期号:5
ISSN号	1000-0593
URL标识	查看原文
收录类别	EI
语种	中文
内容类型	期刊论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/4219326
专题	武汉大学
推荐引用方式 GB/T 7714	Mo, Shaobo,Liu, Ying,Yang, Yezhi,et al. X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) of carbon nitride (CN) films[J]. 光谱学与光谱分析,1999,19(5).
APA	Mo, Shaobo,Liu, Ying,Yang, Yezhi,&Cheng, Yuhang.(1999).X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) of carbon nitride (CN) films.光谱学与光谱分析,19(5).
MLA	Mo, Shaobo,et al."X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) of carbon nitride (CN) films".光谱学与光谱分析 19.5(1999).

个性服务

查看访问统计

相关权益政策

暂无数据

收藏/分享

除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。