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	X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) of carbon nitride (CN) films
	Mo, SB; Liu, Y; Yang, YZ; Cheng, YH
刊名	光谱学与光谱分析
	1999
卷号	19期号:5
ISSN号	1000-0593
URL标识	查看原文
收录类别	EI ; SCIE
语种	中文
内容类型	期刊论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/4177399
专题	武汉大学
推荐引用方式 GB/T 7714	Mo, SB,Liu, Y,Yang, YZ,et al. X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) of carbon nitride (CN) films[J]. 光谱学与光谱分析,1999,19(5).
APA	Mo, SB,Liu, Y,Yang, YZ,&Cheng, YH.(1999).X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) of carbon nitride (CN) films.光谱学与光谱分析,19(5).
MLA	Mo, SB,et al."X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) of carbon nitride (CN) films".光谱学与光谱分析 19.5(1999).

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