| 题名 | 束流发射度测量 |
| 作者 | 许珊珊 |
| 学位类别 | 硕士 |
| 答辩日期 | 2008-05-29 |
| 授予单位 | 中国科学院上海应用物理研究所 |
| 授予地点 | 上海应用物理研究所 |
| 导师 | 叶恺容 |
| 关键词 | 发射度 测量 SSRF |
| 学位专业 | 信号与信息处理 |
| 中文摘要 | 发射度是衡量束流品质的重要参数，随着加速器技术的不断发展，人们对束流品质要求越来越高，特别是对小发射度的测量要求更高的分辨率。本文主要工作就是对束流发射度测量进行研究，主要分为四个部分： 第一部分：主要介绍了几种常用的发射度测量方法双屏法、以图形图像技术为基础的“多孔屏法”、切伦科夫辐射“双成像法”。 第二部分：束流发射度测量系统介绍这部分主要介绍了合肥光源束团截面及发射度测量系统：该系统可以实时显示束团截面形状以及测得的束团截面尺寸、发射度和耦合度，同时可以进行图像离线分析。HIRFL束流发射度测量系统：该系统成功的将传统的荧光靶束流定性观测改进为精确的定量测量，而且测量速度也有了显著的提高。 第三部分讨论了SSRF （上海同步辐射光源装置）直线加速器部分测量技术和测量装置，包括薄透镜的合理采用、多点最小二乘法拟合、截面测量靶的选择和测量软件设计等，以提高发射度测量的准确性和可靠性。测量结果的高稳定性与重复性对接下来即将进行的自由电子激光发射度测量有重要的参考意义。 第四部分：利用数字摄像机对发射度参数进行测量研究。通过对硬件配置和软件程序编写，实现数据采集、处理、结果显示。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-04-11 |
| 页码 | 50 |
| 内容类型 | 学位论文 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/7303]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2004-2010年 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 许珊珊. 束流发射度测量[D]. 上海应用物理研究所. 中国科学院上海应用物理研究所. 2008. |
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