层状钙钛矿结构铁电薄膜SrBi_2Ta_2O_9的掺杂改性研究
杨平雄 ; 邓红梅 ; 褚君浩
刊名物理学报
1998
期号07
ISSN号1000-3290
中文摘要研究了Nb掺杂对层状钙钛矿结构铁电薄膜SrBi2Ta2O9(SBT)的改性,分析了其改性机理.利用光声光谱技术对不同含量Nb掺杂SBT薄膜的可见光吸收进行了分析.结果表明掺杂SBT薄膜在580nm处的吸收带随Nb含量的增加发生红移,这暗示掺杂SBT薄膜的能隙与Nb含量有关.对掺杂SBT薄膜的铁电性质研究表明,薄膜的剩余极化值依赖于薄膜中的Nb含量,这与薄膜存在相界有关
语种中文
公开日期2012-03-29
内容类型期刊论文
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/104514]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文(冶金所)
推荐引用方式
GB/T 7714
杨平雄,邓红梅,褚君浩. 层状钙钛矿结构铁电薄膜SrBi_2Ta_2O_9的掺杂改性研究[J]. 物理学报,1998(07).
APA 杨平雄,邓红梅,&褚君浩.(1998).层状钙钛矿结构铁电薄膜SrBi_2Ta_2O_9的掺杂改性研究.物理学报(07).
MLA 杨平雄,et al."层状钙钛矿结构铁电薄膜SrBi_2Ta_2O_9的掺杂改性研究".物理学报 .07(1998).
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