The Mitigating Effects of the Threshold Voltage Shifting on the False Turn-on of GaN E-HEMTs | |
Xu, Guangzhao; Yang, Xu; Xie, Ruiliang; Zhang, Feng; Wang, Naizeng; Tian, Mofan; Jia, Haiyang; Wang, Laili | |
2018 | |
页码 | 909-912 |
会议录 | THIRTY-THIRD ANNUAL IEEE APPLIED POWER ELECTRONICS CONFERENCE AND EXPOSITION (APEC 2018) |
URL标识 | 查看原文 |
ISSN号 | 1048-2334 |
内容类型 | 会议论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2918223 |
专题 | 西安交通大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Xu, Guangzhao,Yang, Xu,Xie, Ruiliang,et al. The Mitigating Effects of the Threshold Voltage Shifting on the False Turn-on of GaN E-HEMTs[C]. 见:. |
个性服务 |
查看访问统计 |
相关权益政策 |
暂无数据 |
收藏/分享 |
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。
修改评论