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	Microbeam Heavy-Ion Single-Event Effect on Xilinx 28-nm System on Chip
	Yang, Weitao; Du, Xuecheng; He, Chaohui; Shi, Shuting; Cai, Li; Hui, Ning; Guo, Gang; Huang, Chengliang
刊名	IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE
	2018
卷号	65页码:545-549
关键词	microbeam single-event effect (SEE) processing system (PS) Heavy ion system on chip (SoC)
ISSN号	0018-9499
URL标识	查看原文
内容类型	期刊论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2917880
专题	西安交通大学
推荐引用方式 GB/T 7714	Yang, Weitao,Du, Xuecheng,He, Chaohui,et al. Microbeam Heavy-Ion Single-Event Effect on Xilinx 28-nm System on Chip[J]. IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE,2018,65:545-549.
APA	Yang, Weitao.,Du, Xuecheng.,He, Chaohui.,Shi, Shuting.,Cai, Li.,...&Huang, Chengliang.(2018).Microbeam Heavy-Ion Single-Event Effect on Xilinx 28-nm System on Chip.IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE,65,545-549.
MLA	Yang, Weitao,et al."Microbeam Heavy-Ion Single-Event Effect on Xilinx 28-nm System on Chip".IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE 65(2018):545-549.

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