一种利用表面等离激元散射对纳米物质进行成像的检测方法

	一种利用表面等离激元散射对纳米物质进行成像的检测方法
	路鑫超; 陈鲁; 刘虹遥
	2018-06-26
著作权人	中国科学院微电子研究所
专利号	CN201410751328.7
国家	中国
文献子类	发明专利
英文摘要	本发明公开一种利用表面等离激元散射对纳米物质进行成像的检测方法，所述检测方法包括：在盖玻片上镀金薄膜；在所述金薄膜上附着纳米物质；光源发出的光经过扩束整形后，以p偏振态聚焦到油浸物镜的后焦平面；调节入射光在油浸物镜的后焦平面上的位置，使入射光斜入射到所述盖玻片上，在所述金薄膜表面激发表面等离激元，所述表面等离激元沿金薄膜表面传播，与所述纳米物质产生散射；所产生的表面等离激元散射转化为光信号与反射光一起被油浸物镜收集；通过CCD对所收集的包含有表面等离激元散射信号的反射光进行成像。
公开日期	2015-07-22
申请日期	2014-12-09
语种	中文
内容类型	专利
源URL	[http://159.226.55.107/handle/172511/18708]
专题	微电子研究所_微电子仪器设备研发中心
作者单位	中国科学院微电子研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	路鑫超,陈鲁,刘虹遥. 一种利用表面等离激元散射对纳米物质进行成像的检测方法. CN201410751328.7. 2018-06-26.