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	Effects of Shell Strain on Valence Band Structure and Transport Properties of Ge/Si1-xGex Core-Shell Nanowire
	Zhao, YN; Xu, HH; Du, G; Liu, XY; Fan, C; Han, RQ; Kang, JF; He, YH
	2010
内容类型	外文期刊
源URL	[http://10.10.10.126/handle/311049/8938]
专题	微电子研究所_微电子器件与集成技术重点实验室
推荐引用方式 GB/T 7714	Zhao, YN,Xu, HH,Du, G,et al. Effects of Shell Strain on Valence Band Structure and Transport Properties of Ge/Si1-xGex Core-Shell Nanowire. 2010.

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