Investigation of resistive switching in Cu-doped HfO2 thin film for multilevel non-volatile memory applications | |
Liu, Q; Wang, Y; Liu, M; Yang, JH; Zuo, QY; Li, YT; Zhang, S; Zhang, MH; Wang, Q; Wang, W | |
2010 | |
内容类型 | 外文期刊 |
源URL | [http://10.10.10.126/handle/311049/8918] |
专题 | 微电子研究所_微电子器件与集成技术重点实验室 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Liu, Q,Wang, Y,Liu, M,et al. Investigation of resistive switching in Cu-doped HfO2 thin film for multilevel non-volatile memory applications. 2010. |
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