嵌入式系统外部易失性存储器高可靠性存储与诊断方法

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	嵌入式系统外部易失性存储器高可靠性存储与诊断方法
	徐皑冬; 闫炳均; 宋岩; 王志平; 胡波; 王锴; 孙俊男; 于海斌; 曾鹏
	2017-06-09
著作权人	中国科学院沈阳自动化研究所
国家	中国
文献子类	发明授权
产权排序	1
其他题名	Embedded system external non-volatile memory high reliability data storage and diagnosing method
英文摘要	本发明涉及嵌入式外部易失性存储器高可靠性存储与诊断方法。本发明首先将数据存储区域分为数据区域和数据备份区域，CPU将数据区域和数据备份区域分别按地址平均分为8部分，按顺序对数据区域部分进行诊断；在诊断的过程中，先将一部分数据区域数据拷贝到相应的备份区域中，再对数据区域进行数据诊断，诊断结束将备份区域数据拷贝回相应数据区域；本发明诊断程序运行在系统空闲时间，可以把主控制器从繁重的存储器的诊断程序中解放出来，和传统的诊断方法相比，主控制器运行开销比较小，主控制器利用率比较高。本发明能够方便实现程序运行空间的切换，不需要动态更改程序的运行空间，程序设计简单，减少了程序运行空间动态变换产生的故障。
公开日期	2019-09-06
申请日期	2015-11-27
语种	中文
状态	有权
内容类型	专利
源URL	[http://ir.sia.cn/handle/173321/25603]
专题	沈阳自动化研究所_工业控制网络与系统研究室
作者单位	中国科学院沈阳自动化研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	徐皑冬,闫炳均,宋岩,等. 嵌入式系统外部易失性存储器高可靠性存储与诊断方法. 2017-06-09.