采用光学相关的高精度亚像元像移测量新方法

	采用光学相关的高精度亚像元像移测量新方法
	Yi Hongwei(易红伟) ; Li Yingcai(李英才) ; Wen DeSheng(汶德胜) ; Li Xuyang(李旭阳) ; Ma Zhen(马臻)
刊名	红外与激光工程
	2011
卷号	40 期号:4 页码:718-722
学科主题	物理科学和化学
收录类别	EI
语种	中文
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/10647]
专题	西安光学精密机械研究所_空间光学应用研究室
推荐引用方式 GB/T 7714	Yi Hongwei(易红伟),Li Yingcai(李英才),Wen DeSheng(汶德胜),等. 采用光学相关的高精度亚像元像移测量新方法[J]. 红外与激光工程,2011,40(4):718-722.
APA	Yi Hongwei,Li Yingcai,Wen DeSheng,Li Xuyang,&Ma Zhen.(2011).采用光学相关的高精度亚像元像移测量新方法.红外与激光工程,40(4),718-722.
MLA	Yi Hongwei,et al."采用光学相关的高精度亚像元像移测量新方法".红外与激光工程 40.4(2011):718-722.