高能扫描层析分析系统

	高能扫描层析分析系统
	李华
分类号	AL-CT-225
	2016
英文摘要	"该系统通过高清晰投影实现对被扫描样品的高分辨率DR成像，利用专用三维快速重建以及可视化建模软件，实现对样品的层析成像以及内部三维信息的可视化，同时借助软件的辅助分析功能，实现对物体的快速CT质量检测及尺寸测量等。，主要技术指标: 1．X射线源：最大电压225KV，最大电流8mA，焦点尺寸为1.0mm/0.4mm。 2．最大穿透能力25mm(钢Q235)。 3．冷却方式：采用封闭水制冷方式。 4．成像方式：实时成像检测(二维)和工业CT扫描(三维)。 5．平板成像系统：有效成像视野19.5(h)×24.4(v)cm。 6．系统分辨率:2D≥3.6LP/mm。"
联系方式	13651028575
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内容类型	仪器设备
源URL	[http://dspace.imech.ac.cn/handle/311007/79601]
专题	力学研究所_流固耦合系统力学重点实验室(2012-)
推荐引用方式 GB/T 7714	李华. 高能扫描层析分析系统(AL-CT-225), 2016.