| 题名 | 总剂量辐射环境下微纳器件长期可靠性退化机理探究 |
| 作者 | 赵京昊 |
| 答辩日期 | 2019-05-28 |
| 授予单位 | 中国科学院大学 |
| 授予地点 | 北京 |
| 导师 | 余学峰 |
| 关键词 | 电离总剂量辐射 热载流子效应 栅氧经时击穿 负偏置温度不稳定性 |
| 学位名称 | 硕士 |
| 学位专业 | 材料工程 |
| 内容类型 | 学位论文 |
| 源URL | [http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/5988]  |
| 专题 | 固体辐射物理研究室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 赵京昊. 总剂量辐射环境下微纳器件长期可靠性退化机理探究[D]. 北京. 中国科学院大学. 2019. |
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