基因芯片荧光靶点图像检测识别算法改进研究

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	基因芯片荧光靶点图像检测识别算法改进研究
	刘军 ; 赵吉宾; 刘伟军; 王天然
刊名	仪器仪表学报
	2009
卷号	30 期号:S 页码:899-901
关键词	基因芯片荧光靶点图像检测识别目标重心目标背景面积比
ISSN号	0254-3087
产权排序	1
英文摘要	在基因芯片分析系统中,基因芯片荧光靶点图像的正确检测识别是基因特异性表达信息提取的必要前提。在荧光靶点检测识别过程中,由于沾污、瑕疵、离焦等因素的影响,荧光靶点图像的信噪比很低,很容易将污点、基片瑕疵等噪声点误识别为荧光靶点,而将沾污的荧光靶点误识别为噪声点。在原算法基础上,为进一步降低误识别率和提高检测精度,提出基于靶点分割图像重心和目标背景面积比的改进的荧光靶点检测识别算法。实验结果表明,与原算法相比,采用新算法将正确识别率提高到90%以上。
语种	中文
公开日期	2010-11-29
内容类型	期刊论文
源URL	[http://210.72.131.170//handle/173321/6323]
专题	沈阳自动化研究所_装备制造技术研究室
作者单位	1.中国科学院研究生院 2.中国科学院沈阳自动化研究所工业信息学重点实验室
推荐引用方式 GB/T 7714	刘军,赵吉宾,刘伟军,等. 基因芯片荧光靶点图像检测识别算法改进研究[J]. 仪器仪表学报,2009,30(S):899-901.
APA	刘军,赵吉宾,刘伟军,&王天然.(2009).基因芯片荧光靶点图像检测识别算法改进研究.仪器仪表学报,30(S),899-901.
MLA	刘军,et al."基因芯片荧光靶点图像检测识别算法改进研究".仪器仪表学报 30.S(2009):899-901.