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	多级排序算法运用于片上系统内嵌逻辑芯核测试调度的方法
	张金艺[1]; 翁寒一[2]; 李娇[3]; 蔡万林[4]; 丁梦玲[5]; 黄徐辉[6]; 王春华[7]; 段苏阳[8]; 吴玉见[9]
	2010
权利人	上海大学
URL标识	查看原文
申请日期	2010-09-21
内容类型	专利
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2313437
专题	上海大学
作者单位	上海大学
推荐引用方式 GB/T 7714	张金艺[1],翁寒一[2],李娇[3],等. 多级排序算法运用于片上系统内嵌逻辑芯核测试调度的方法. 2010-01-01.

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