| 高放大倍率X射线光电子同轴全息图的记录装置; 高放大倍率X射线光电子同轴全息图的记录装置 | |
| 高鸿奕 ; 陈建文 ; 谢红兰 ; 徐至展 | |
| 2003-12-03 | |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | ZL02283663.2 |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 权利人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 中文摘要 | 一种高放大倍率X射线光电子同轴全息图的记录装置，包括在真空腔内，X射线源发射的X射线经波带片衍射聚焦，针孔光阑滤波，穿过待测样品的准单色X射线被待测样品中，不透明和半透明部分散射的为物束，与穿过待测样品中透明部分的参考束重叠干涉。通过光电阴极，将X射线全息转换为光电子干涉场，经过加速阳极的加速，和放大电磁透镜放大成像，再输出连接到计算机上的接收器的接收面上。信息进入计算机内进行数据处理和图像再现，具有较高的分辨率，分辨率达到0.5nm。操作方便，可以实时快速地观测自然状态下的生物样品的三维超微结构。 |
| 公开日期 | 2011-07-14 ; 2011-07-15 |
| 申请日期 | 2002-12-27 |
| 收录类别 | 专利 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN02283663.2 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/8236]  |
| 专题 | 上海光学精密机械研究所_强场激光物理国家重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 高鸿奕,陈建文,谢红兰,等. 高放大倍率X射线光电子同轴全息图的记录装置, 高放大倍率X射线光电子同轴全息图的记录装置. ZL02283663.2. 2003-12-03. |
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