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	Analysis of PCB defects (CPCI-S收录)
	Cao, ZN; Luo, W; Zhang, MY; Song, GS
会议名称	ICEMI 2005: CONFERENCE PROCEEDINGS OF THE SEVENTH INTERNATIONAL CONFERENCE ON ELECTRONIC MEASUREMENT & INSTRUMENTS, VOL 8
关键词	analysis PCB board defect
URL标识	查看原文
内容类型	会议论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2117236
专题	华南理工大学
作者单位	S China Univ Technol, Testing & Analyt Ctr, Guangzhou 510640, Peoples R China
推荐引用方式 GB/T 7714	Cao, ZN,Luo, W,Zhang, MY,等. Analysis of PCB defects (CPCI-S收录)[C]. 见:ICEMI 2005: CONFERENCE PROCEEDINGS OF THE SEVENTH INTERNATIONAL CONFERENCE ON ELECTRONIC MEASUREMENT & INSTRUMENTS, VOL 8.

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