Single Event Effects in COTS Ferroelectric RAM Technologies (CPCI-S收录) | |
Zhang, Zhangang[1,2]; Lei, Zhifeng[3]; Yang, Zhenlei[4]; Wang, Xiaohui[4]; Wang, Bin[4]; Liu, Jie[4]; En, Yunfei[3]; Chen, Hui[3]; Li, Bin[2] | |
URL标识 | 查看原文 |
内容类型 | 会议 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2042944 |
专题 | 华南理工大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Zhang, Zhangang[1,2],Lei, Zhifeng[3],Yang, Zhenlei[4],等.Single Event Effects in COTS Ferroelectric RAM Technologies (CPCI-S收录). |
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