QQ客服 官方微博 反馈留言

	High Frequency Analysis and Characterization of TSVs for High-Speed Integrated Systems (CPCI-S收录)
	Miao, Min[1,2]; Fang, Runiu[2]; Sun, Xin[2]; Cui, Xiaole[2,3]; Jin, Yufeng[2,3]
关键词	Through silicon via MOS effect Noise coupling
URL标识	查看原文
内容类型	会议
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2038758
专题	华南理工大学
推荐引用方式 GB/T 7714	Miao, Min[1,2],Fang, Runiu[2],Sun, Xin[2],等.High Frequency Analysis and Characterization of TSVs for High-Speed Integrated Systems (CPCI-S收录).

个性服务

查看访问统计

相关权益政策

暂无数据

收藏/分享

除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。