CRC校验在DALLAS单总线产品中的应用

	CRC校验在DALLAS单总线产品中的应用
	戚俊 ; 李季 ; 张毅 ; 陈结祥
刊名	量子电子学报
	2001
期号	6
合作状况	国内
学科主题	光电子技术 ; 计算机科学与技术
收录类别	其他
语种	中文
公开日期	2009-10-19
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.hfcas.ac.cn/handle/334002/414]
专题	合肥物质科学研究院_中科院安徽光学精密机械研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	戚俊,李季,张毅,等. CRC校验在DALLAS单总线产品中的应用[J]. 量子电子学报,2001(6).
APA	戚俊,李季,张毅,&陈结祥.(2001).CRC校验在DALLAS单总线产品中的应用.量子电子学报(6).
MLA	戚俊,et al."CRC校验在DALLAS单总线产品中的应用".量子电子学报 .6(2001).