| 光激发微分电容法测定低背景载流子浓度的方法 | |
| 1李天信 2夏辉 3 陆卫 4殷豪 5黄文超 6王文娟 7胡伟达8李宁 9陈平平 10李志峰 11陈效双 | |
| 2013 | |
| 著作权人 | 上海技术物理研究所 |
| 专利号 | 201110008829.2 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明 |
| 公开日期 | 2013-12-20 |
| 申请日期 | 2011 |
| 语种 | 中文 |
| 状态 | 公开 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://202.127.1.142/handle/181331/7227]  |
| 专题 | 上海技术物理研究所_上海技物所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 1李天信 2夏辉 3 陆卫 4殷豪 5黄文超 6王文娟 7胡伟达8李宁 9陈平平 10李志峰 11陈效双. 光激发微分电容法测定低背景载流子浓度的方法. 201110008829.2. 2013-01-01. |
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