一种大口径均匀光源的均匀性测试装置

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	一种大口径均匀光源的均匀性测试装置
	昌明; 赵建科; 李晶; 薛勋; 曹昆; 胡丹丹
	2018-10-26
著作权人	中国科学院西安光学精密机械研究所
专利号	CN201820401439.9
国家	中国
文献子类	实用新型
产权排序	1
其他题名	一种大口径均匀光源的均匀性测试装置
英文摘要	本实用新型涉及光学测试技术领域，针对现有均匀光源均匀性测试装置中，面均匀性测试装置有效扫描区域不完整，角均匀性测试装置不能通用、结构复杂、难以满足均匀光源出射面直径不断增大的实际需要，提供一种大口径均匀光源的均匀性测试装置，其包括支架、升降装置、平台位置转换装置、载物台、摆臂、滑块、探测器位置转换装置、光亮度探测器以及测量控制系统；升降装置设置在支架上，载物台通过平台位置转换装置设置在升降装置上；载物台设置旋转电机，摆臂安装在旋转电机的输出端；滑块安装在摆臂上，光亮度探测器通过探测器位置转换装置安装在滑块上，光亮度探测器、旋转电机和滑块驱动电机分别与测量控制系统电连接。
公开日期	2018-10-26
申请日期	2018-03-23
语种	中文
状态	已授权
内容类型	专利
源URL	[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/30953]
专题	其它单位_其它部门
作者单位	中国科学院西安光学精密机械研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	昌明,赵建科,李晶,等. 一种大口径均匀光源的均匀性测试装置. CN201820401439.9. 2018-10-26.