| 题名 | 光学介质膜层的直接原子发射光谱分析-TiO_2-Ta_2O_5混合膜中TaTi元素重量比的测定 |
| 作者 | 任兵 |
| 答辩日期 | 1986 |
| 文献子类 | 硕士 |
| 授予单位 | 中国科学院长春光学精密机械研究所 |
| 授予地点 | 中国科学院长春光学精密机械研究所 |
| 导师 | 郭永廉 |
| 英文摘要 | TiO_2-Ta_2O_5混合光学介质膜是用于研制激光器中高反射膜系的膜层之一，这种膜层只有1000埃厚，并且具有难溶解和不导电等性质，使这种膜层的分析变得比较困难。自己在解决了样品激发及标准样品制备这两个关键性的问题之后，通过对各种实验条件的优化选择，成功地使用原子发射光谱分析技术对光学介质膜层直接分析应用的新途径，减轻了这种膜层的分析对现代大型仪器的依赖性。用原子发射光谱分析技术直接分析玻璃基底上的TiO_2-Ta_2O_5混合膜层时要求有特殊的样品激发装置，为此我们设计了水平电极架和运动进样系统。水平电极在样品发表面上放电，进行取样、激发，运动进样系统将样品不断地送入分析间隙。火花发生器采用天津产的WPF-3型。根据原子发射光谱分析的标样制备要求，将按一定比例配制好、并研磨均匀的TiO_2和Ta_2O_5混合粉未涂到与试样基底相同的玻璃上面，便制成了标准样品。实验表明，采用这种标样制成的工作曲线线性好，能够胜任试样的定量分析工作，并且使分析结果不产生系统误差。通过对十个样品的实际应用，所得的分析结果与用ICP-AES法给出的结果相符合，最大相对误差为±12%，最大变动系数为14%。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-03-21 |
| 页码 | 56 |
| 内容类型 | 学位论文 |
| 源URL | [http://159.226.165.120//handle/181722/2147]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 任兵. 光学介质膜层的直接原子发射光谱分析-TiO_2-Ta_2O_5混合膜中TaTi元素重量比的测定[D]. 中国科学院长春光学精密机械研究所. 中国科学院长春光学精密机械研究所. 1986. |
| 个性服务 |
| 查看访问统计 |
| 相关权益政策 |
| 暂无数据 |
| 收藏/分享 |
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。
修改评论