基于相位调制法的光学元件检测新技术

	基于相位调制法的光学元件检测新技术
	潘兴臣; 刘诚; 朱健强
	2016
中文摘要	利用单幅衍射光斑和迭代算法,基于相位调制的相干调制成像技术可是实现对波前振幅和相位信息的同时重构,因此除用于CCD曝光时间量级的准瞬态成像外,还可以用于波前检测和光学元件测量,作为一种非干涉元件检测技术,由于只需要记录一幅衍射光斑的光强分布,不需要参考光,核心结构可和CCD体积相比拟,对环境稳定
会议录	第十六届全国光学测试学术交流会摘要集
语种	中文
内容类型	会议论文
源URL	[http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/27388]
专题	上海光学精密机械研究所_高功率激光物理国家实验室
作者单位	中国科学院上海光学精密机械研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	潘兴臣,刘诚,朱健强. 基于相位调制法的光学元件检测新技术[C]. 见:.