BEPCII-LINAC试验束次级粒子的模拟分析及质子能谱测量

	BEPCII-LINAC试验束次级粒子的模拟分析及质子能谱测量
	杨涛; 李家才; 唐兴华; 顾运厅; 柯尊建; 安广朋; 张少平
刊名	核技术
	2011-04-10
期号	4 页码:261-266
关键词	铍靶次级粒子 GEANT4 质子能谱单粒子效应
ISSN号	0253-3219
中文摘要	对BEPCII-LINAC试验束上1.89 GeV脉冲电子轰击铍靶产生的次级粒子进行蒙特卡罗模拟,得到次级粒子的能谱和角度分布谱。Geant4模拟显示混合粒子中质子能量大于35 MeV的通量较大,且质子产额达到3.97×108 s-1,同时质子对器件的注量率?p可达6.32×105 s-1.cm-2。用试验束41°磁谱仪和E3线上的探测系统测量得到的质子能谱验证了次级粒子注量率和产额的模拟结果。模拟和实验结果都显示BEPCII-LINAC试验束次级束中的质子满足半导体器件单粒子效应实验要求。
出版地	SHANGHAI
语种	中文
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.lzu.edu.cn/handle/262010/131121]
专题	核科学与技术学院_期刊论文
推荐引用方式 GB/T 7714	杨涛,李家才,唐兴华,等. BEPCII-LINAC试验束次级粒子的模拟分析及质子能谱测量[J]. 核技术,2011(4):261-266.
APA	杨涛.,李家才.,唐兴华.,顾运厅.,柯尊建.,...&张少平.(2011).BEPCII-LINAC试验束次级粒子的模拟分析及质子能谱测量.核技术(4),261-266.
MLA	杨涛,et al."BEPCII-LINAC试验束次级粒子的模拟分析及质子能谱测量".核技术 .4(2011):261-266.